VERTEX serije

Najuspešnejši raziskovalni FTIR spektrometri na trgu

Z Brukerjevo serijo VERTEX raziskovalnih FTIR spektrometrov boste zlahka dosegali vrhunske dosežke. Serija VERTEX je rezultat 35 let dolgega oranja ledin in razvoja v podjetju Bruker.
Serija VERTEX je zgrajena na celostno nadgradljivi optični platformi, zasnovani z mislijo na visoko prilagodljivost. VERTEX spektrometri imajo široko paleto funkcij: Brukerjevo omrežje umetne inteligence (BRAIN), Samodejno prepoznavanje komponent (ACR), Ethernet povezavo, »Plug & Play« funkcije in Samodejno prepoznavanje pripomočkov (AAR).

Lastnosti serije VERTEX:

• Izjemna resolucija in moč razreševanja
• Vrhunsko razmerje med signalom in šumom
• Možnosti časovnega razločevanja in modulacije v načinih »Step-Scan«, »Rapid-Scan« in »Slow-Scan«
• DigiTect^TM 24-bitni ADC detektorji za najvišjo občutljivost in stabilnost
• Širok nabor pripomočkov za zadostitev vsem sedanjim in prihodnjim potrebam
• Veliko možnosti združljivosti – FTIR in ramanska mikroskopija, GC, TGA, PM-IRRAS, VCD…
• Enostavna menjava delilnikov žarkov, brez uravnavanja interferometra
• Popolnoma samodejni rutinski testi za validacijo v skladu s cGMP (OQ, PQ)
• 21 CFR Part 11 in validacija v skladu z EU-, JP- in US-farmakopejo

Serije Vertex:

• VERTEX 70 (V 70) - visokozmogljivi FTIR spektrometer z RockSolid^TM interferometrom, namenjen za R&D in analitične aplikacije.
• VERTEX 70v (V 70v) - vakuumska različica VERTEXa 70 - visokozmogljiv FTIR spektrometer z RockSolid^TM interferometrom, namenjen za R&D in analitične aplikacije.
• VERTEX 80 (V 80) – vrhunsko zmogljiv spektrometer z UltraScan^TM interferometrom, zasnovan za najzahtevnejše aplikacije v raziskovanju.
• VERTEX 80v (V 80v) - vakuumska različica VERTEX 80 - vrhunsko zmogljiv spektrometer z UltraScan^TM interferometrom, zasnovan za najzahtevnejše aplikacije v raziskovanju.

Primerjava serije Vertex:

DigiTect^TM detektor

Tehnologija DigiTect^TM detektorja podjetja Bruker zagotavlja najnižji elektronski šum. Temelji na sodobnem dvokanalnem delta-sigma ADC z resničnim 24-bitnim dinamičnim razponom integriranem v elektroniko predojačevalnika detektorja.

Step-Scan

»Step-Scan« tehnika omogoča spremljanje časovnega poteka zelo hitro ponavljajočih se dogodkov (prehodov) vse do zelo nizkega ns območja. Zrcalo interferometra se zaporedoma postavi v vsako točko interferograma posebej, kjer se poskus prične znova. Možna je časovna ločljivost do 2,5 ns.

Rapid-Scan

Za časovno razločevanje spektroskopije neponovljivih poskusov, podatke lahko pridobimo s tako imenovano »Rapid-Scan« tehniko. V tem primeru se zrcalo interferometra premika zelo hitro. Od vsakega posameznega celostnega zajetja interferometra se lahko pridobi do 4 spektre. Možno je zajemanje do 110 spektrov na sekundo.