MATRIX-F II je FT-NIR spektrometer namenjen spremljanju industrijskih procesov v realnem času. MATRIX-F II je preko optičnih vlaken lahko opremljen s sondo za kontaktne meritve ali z merilno glavo za brezkontaktne meritve. Zahvaljujoč optičnim vlaknom je lahko spektrometer postavljen več sto metrov stran od točke analize. S celostno podporo standardnih industrijskih komunikacijskih protokolov je integracija enostavna. Možnost integriranega računalnika zagotavlja popolnoma avtonomen analizator.
Lastnosti:
Matrix-F II je edini FT-NIR spektrometer, ki lahko opravlja tako kontaktne kot brezkontaktne meritve preko sklopljenih optičnih vlaken kot samostojen instrument.
MATRIX-F II je osnovni spektrometer, ki omogoča uporabo le kontaktnih sond (tako za tekočine kot trdnine)
MATRIX-F II emission je namenjen izključno za brezkontaktne meritve
MATRIX-F II duplex je prilagojen tako za brezkontaktne, kot tudi za kontaktne sonde, ki so s spektrometrom sklopljene preko optičnih vlaken
Trajno uravnan RocksolidTM interferometer je edinstven, patentiran element, ki ima več kot 20 % večjo prepustnost od običajno zasnovanega interferometra. Tehnologija je zasnovana na t.i. »dual retro reflection cube corner mirrors«, ki ne povzroča trenja ležajev. Slednje zagotavlja izjemno stabilnost in zanesljivost tudi v zahtevnih razmerah. S svojo patentirano zasnovo preprečuje optične napake in uklon svetlobe.
Prednosti:
Maistrova ulica 16
1241 Kamnik
Slovenija
ID za DDV: SI52970167
matična številka: 8546428000
IBAN: SI56 0310 4100 0821 072
e-pošta: info@optikinstruments.si
Prodaja in aplikacijska podpora:
dr. Urban Novak
urban.novak@optikinstruments.si
+386 41 520 219
Servis:
Klemen Žumer
klemen.zumer@optikinstruments.si
+386 70 688 269