Analiza mikrodelcev
S FTIR mikroskopijo je mogoče izmeriti IR spekter kjerkoli na vzorcu z zelo visoko lokalno resolucijo (do 5-10 μm), kar omogoča tudi analizo kompleksnih kompozicij večkomponentnih delcev. Programska oprema samodejno prepozna meritvene točke, izvede meritve in statistično obdela heterogene vzorce.
V kombinaciji s FPA detektorjem ("focal plane array") lahko analiziramo večje površine, vse do prostorske ločljivosti 0,5 µm. To je največja prostorska ločljivost FTIR spektrometra na trgu. Zaradi tega so Bruker instrumenti prva izbira v aplikacijah mikrodelcev.
Oglejte si praktičen primer:
SENTERRA II in RamanScope III sta ramanska mikroskopa, ki se odlično obneseta pri analizi mikrodelcev. Meritve se lahko izvedejo s prostorsko ločljivostjo do 1 µm (odvisno od difrakcijske omejitve) pri 100 spektrih/s.
